田中 肇研究室 ソフトマターの物理 東京大学 工学系研究科 物理工学専攻 東京大学 生産技術研究所 基礎系部門
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高分子・液晶・コロイド・膜・タンパク質液体・ガラス・ゲル光とソフトマター
位相コヒーレント光散乱法レーザ・トラッピング法時分割静的VV・VH光散乱法2次元動的赤外分光法

レーザ・トラッピング法

レーザ・トラッピング法 液晶などの個々の構造欠陥は小さくそのエネルギーも弱いため,基本的な欠陥単独について実験を行った例はほとんどない.そこで 2分子膜の形成する膨潤スメティック液晶相の単位構造が非常に大きいことを利用し,レーザ・トラッピング法を用いた単独線欠陥の任意光操作・物性測定を行った.その結果,液晶の典型的トポロジー欠陥である線欠陥の張力,即ち単位長あたりのエネルギーの直接測定に成功し,それを基に詳細な膜構造のモデルを作ることができた.また,線欠陥の形成・操作による六方格子状,らせん状などの任意パターンの形成,癒着現象の発見およびそのエネルギーの測定・解析,2分子膜の 2次元流動性の測定などに成功している.このような基本的な構造欠陥の自由な操作,直接物性測定は本研究で初めて実現されたものである.

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